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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

微波器件高溫高濕反偏老化測試系統(H3TRB)

符合標準:

AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的射頻場(chǎng)效應管、射頻功率器件進(jìn)

行溫濕度下反偏試驗 。

技術(shù)特點(diǎn):

每顆器件的Vgs獨立控制。

實(shí)時(shí)監測每個(gè)試驗器件的Id、Ig。

控制上、下電時(shí)序。

全過(guò)程試驗數據保存于硬盤(pán)中,可輸出Excel

試驗報表和繪制全過(guò)程漏電流IR變化曲線(xiàn)。


技術(shù)性能

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