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    2. 杭州高裕電子科技股份有限公司

      產品展示

      Product Demonstration

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      產品展示

      高溫反偏老化測試系統(單管、TJ型、電子開關保護)

      符合標準:

      AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。

      適用范圍:

      適用于各種封裝形式的二極管、三極管、場效應管、可控硅、IGBT單管等器件進行高溫反偏試驗(HTRB)和高溫漏流測試(HTIR)。

      技術特點:

      可實時監測每個的結溫TJ。

      實時監測每個試驗器件的漏電流。

      每個回路漏電流超上限電子開關斷電保護。

      全過程試驗數據保存于硬盤中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


      技術性能

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