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    2. 杭州高裕電子科技股份有限公司

      產品展示

      Product Demonstration

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      產品展示

      混合集成電路高溫動態老化測試系統(定制型)

      符合標準:

      AEC-Q100,MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等試驗標準。

      適用范圍:

      適用于各種封裝數字、模擬、數?;旌想娐愤M行高溫動態老化試驗。

      技術特點:

      一板一區,可滿足多種不同試驗參數的器件同時老化。

      完善的、種類齊全的老化器件數據庫可供用戶調用。

      64路回檢信號,可設置回檢通道信號出錯依據,并判斷該通道信號是否正常。


      技術性能

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